КФ "Микроскоп Плюс" Санкт-Петербург
тел: +7 921 753 91 61
info@microscope-plus.ru


НАШИ ПРЕДЛОЖЕНИЯ:


Биологические
микроскопы ⇓

Исследовательские
микроскопы ⇓

Поляризационные микроскопы ⇓

Металлографические микроскопы ⇓

Стереомикроскопы ⇓

Инвертированные микроскопы ⇓

Камеры для световой микроскопии ⇓

Камеры для
люминесценции ⇓

Программы анализа изображений ⇓

Иммерсионная смесь ⇓

Лампы для осветителей микроскопов ⇓

Предметные и покровные стекла ⇓

Люминесцентные светофильтры ⇓

МИКРОСКОПЫ ОТРАЖЕННОГО СВЕТА

МИКРОСКОПЫ ОТРАЖЕННОГО СВЕТА ПОЛЯРИЗАЦИОННЫЕ МИКРОСКОПЫ СТЕРЕОМИКРОСКОПЫ


MOTIC

metallurgical microscope motic ba310 met

AE2000 MET

Рабочий
✔ Инвертированный
✔ Светлое поле, темное поле, поляризация
✔ Бюджетный вариант



PSM 1000

Лабораторный
✔ Прямой
✔ План-апохроматическая оптика
✔ Возможность использования при работе с лазерами (PSM-оптика)

PANTERA TEC MET

Рабочий
✔ Прямой
✔ Светлое поле, темное поле и поляризация в отраженном свете
✔ Проходящий и отраженный свет
✔ По-сегментный режим работы осветителя отраженного света
✔ Новый дизайн с использованием современных технологий



BA310 MET

Рабочий
✔ Прямой
✔ Комплектации для исследования габаритных образцов высотой до 120мм
✔ Проходящий и отраженный свет
✔ Бюджетный вариант


OLYMPUS CORP.

microscope olympus bx53

OLYMPUS BX53

Исследовательский
✔ Прямой
✔ Светлое поле, темное поле, поляризация, DIC, MIX-контраст
✔ Большой выбор объективов и конфигураций
✔ Качественное документирование изображений

OLYMPUS BX43

Лабораторный
✔ Прямой
✔ Светлое поле, темное поле, поляризация
✔ Большой выбор объективов и конфигураций
✔ Качественное документирование изображений


ЛОМО

инвертированный металлографический микроскоп Метам ЛВ 41 ЛОМО

МЕТАМ ЛВ-41 (42)

Рабочий
✔ Инвертированный
✔ Светлое поле, темное поле, поляризация
✔ Бюджетный вариант



МЕТАМ РВ-21

Рабочий
✔ Инвертированный
✔ Светлое поле, темное поле, ДИК

ПМТ-3М

Микртвердомер
✔ Измерение твердости по Виккерсу
✔ Измерения твердости у образцов из металла, сплавов, минералов, стекла, керамики



МИИ-4М

Микроинтерферометр
✔ Измерения параметров шероховатости полированных и доведенных поверхностей
✔ Измерения толщин пленок


Эта страница может некорректно отображаться в браузере Internet Explorer.