КФ МИКРОСКОП ПЛЮС

U-TP137:

✔ четверть волновая поляризационная пластинка (λ/4)
✔ вносит относительный фазовый сдвиг на 90 ° между ортогональными волновыми фронтами (обыкновенными необыкновенным) при прохождении линейно поляризованного света. Этот сдвиг преобразует линейно поляризованный свет в эллиптическую или круговую поляризацию
✔ используется для увеличения контраста при исследовании материалов со слабым двулучепреломлением
✔ используется для определения знака двулучепреломления в коноскопии с использованием линзы Бертрана
✔ используется для для качественного анализа коноскопических и ортоскопических изображений
✔ используется для оценки различий в оптическом пути в двулучепреломляющих образцах

U-TP530:

✔ одноволновая поляризационная пластинка (λ) первого порядка
✔ вносит фазовый сдвиг 90 ° в зеленую составляющую света, которая затем блокируется анализатором, оставляя линейную поляризацию других составляющих света без изменений
✔ используется для количественного анализа в коноскопической и ортоскопической поляризационной микроскопии
✔ используется для определения оптического признака (положительного или отрицательного) двойного лучепреломляющего образца
✔ используется для определения толщины исследуемого объекта
✔ используется для определения двулучепреломления кристаллических и полимерных материалов
✔ используется для усиления контраста объектов с очень слабым двулучепреломлением, например, биологических объектов, таких как, оболочки клеток, крахмал, микротрубки и т.п.

U-CWE-2:

✔ кварцевый клин (1-4λ)
✔ вносит плавно изменяющийся фазовый сдвиг, который зависит от толщины кварцевой пластинки в конкретном месте клина
✔ используется для полу-количественного (не точного) анализа в поляризационной микроскопии
✔ используется для качественного анализа минералов в петрографии
✔ используется для определения оптического признака двулучепреломляющего образца, когда присутствуют цвета интерференции высшего порядка
✔ используется для определения направления анизотропии в двулучепреломляющих образцах
✔ используется для исследования волокон

U-CBE:

✔ компенсатор Берека (Berek) (0-3 λ)
✔ вносит плавно изменяющийся фазовый сдвиг, который зависит от угла поворота пластинки
✔ используется для количественного анализа в поляризационной микроскопии для исследования кристаллов, волокон, минералов, пластиковой пленки
✔ используется для измерения толщины материала
✔ используется для измерений на живых организмах и макромолекулах
✔ используется для исследования волокон
✔ используется для количественного определения задержки длины волны кристалла, волокна, минерала, пластиковой пленки или другого двулучепреломляющего материала
✔ может использоваться для определения значения двойного лучепреломления

U-CSE:

✔ компенсатор Senarmont (0-1 λ) (компенсатор Сенармона)
✔ объединяет высокоточную кварцевую четвертьволновую кристаллическую пластину и вращающийся на 180 ° анализатор; предназначен для обеспечения измерений с точностью, которая приближается к одной тысячной длины волны или менее
✔ требует использования интерференционного зеленого светофильтра для создания монохромного света
✔ используется для количественного анализа в поляризационной микроскопии для исследования кристаллов, волокон и живых организмов (оболочки клеток, органеллы, микротрубки и т.п.)
✔ используется для исследования натяжения в оптике
✔ используется для измерений на живых организмах и макромолекулах
✔ используется для усиления контраста объектов с очень слабым двулучепреломлением, например, биологических объектов, таких как, оболочки клеток, крахмал, микротрубки и т.п.
✔ используется для измерений запаздывания в диапазоне оптических разностей хода около 550 нанометров (одна длина волны в зеленой области) для количественного анализа кристаллов, волокон и двулучепреломления в живых организмах
✔ используется для исследования оптической деформации
✔ используется для подчеркивания контраста в слабо двулучепреломляющих образцах, которые обычно трудно исследовать при скрещенном поляризованном освещении

U-CBR:

✔ компенсатор Брейс-Келера (Brace-Koehler) (0-1/10 λ или 0-1/30 λ)
✔ используется для количественного анализа в поляризационной микроскопии для измерения очень малых фазовых запаздываний (оптических разностей хода) у таких объектов, как тонкие пленки, стекла, живые организмы с низким коэффициентом двойного лучепреломления
✔ используется для усиления контраста объектов с очень слабым двулучепреломлением
✔ делает микроскоп чувствительным и точным устройством для проведения количественных измерений